物體表面熱發(fā)射率的測量方法主要分為兩大類：直接法和間接法。

一、直接法：

量熱法：

· 原理： 直接基于發(fā)射率的定義進行測量。將樣品加熱到一個特定溫度，通過測量其維持該溫度所需的功率（熱損失），直接計算出發(fā)射率。這是最基礎、最準確的方法之一，常被視為基準方法。

· 特點： 測量準確度高，但設備復雜，測量周期非常長（數(shù)小時），對實驗環(huán)境要求很告，通常僅用于計量院所的基礎研究和標準物質(zhì)定標。

二、間接法：

1、輻射計法 / 反射法：

 · 原理： 根據(jù)基爾霍夫熱輻射定律，在不透明（或已知透射率）的材料中，在熱紅外波段的發(fā)射率 ε = 1 - ρ（反射率）。因此，通過測量樣品在特定波長范圍內(nèi)的半球反射率或方向-半球反射率，即可間接得到其發(fā)射率。

 · 特點： 這是目前主流的快速測量方法。TIR100-2采用的就是這種方法。

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2、光譜法：

 · 原理： 使用傅里葉變換紅外光譜儀測量樣品的光譜反射率，再通過計算得到光譜發(fā)射率。可以進一步積分得到特定波段或全波段的發(fā)射率。

 · 特點： 能獲得連續(xù)的光譜信息，功能強大，但設備昂貴、操作復雜，需要專業(yè)知識和數(shù)據(jù)處理，通常用于實驗室的深度材料分析。

3、參考樣件法：

· 原理： 將樣品和已知發(fā)射率的參考樣件在相同條件下加熱到相同溫度，然后通過紅外熱像儀或輻射測溫儀比較它們的熱輻射強度，從而推算未知樣品的發(fā)射率。

· 特點： 方法簡單，但精度受參考樣件、溫度均勻性、環(huán)境干擾等多種因素影響，精度相對較低。